Поиск
Filters
Ваша корзина пуста.
067 731 81 26
063 297 04 04
Close

Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии (уценка, витринный экз.)

С.ДЖ. Б. Рид
180,00 грн
+ -

В предлагаемой книге описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, основные принципы формирования изображения в РЭМ, принципы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно изложены процедуры качественного и количественного рентгеноспектрального анализа. Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач.

Характеристики
Автор С.ДЖ. Б. Рид
Год2008
ISBN978-5-94836-177-2
ЯзыкРусский
Издательство Техносфера
Страниц240
Формат170х240 мм
ОбложкаТвёрдая
top