Поиск
Filters
Ваша корзина пуста.
093 653 93 80
096 661 85 11
099 950 11 32
Close

LabView: практикум по основам измерительных технологий

Батоврин В., Бессонов А. С., Мошкин В., Папуловский В. Ф.
140,00 грн
+ -

Данная книга содержит практикум по основам измерительных технологий. Работы охватывают основы метрологии и измерительной техники, вопросы обработки и представления результатов измерений и методы и средства электрических измерений. Выбор этих разделов обусловлен тем, что с ними чаще всего приходится сталкиваться в учебной и производственной практике. Основой представленного в настоящем издании практикума является комплекс прикладных программ, созданный в инструментальной среде разработки приложений LabVIEW. Программное обеспечение является оригинальной разработкой авторов учебного пособия и представлено на компакт-диске, поставляемым с книгой. Издание предназначено для студентов технических вузов, обучающихся по специальностям "Приборостроение", "Информационно-измерительная техника и технологии", "Методы и средства измерений", а также для студентов других направлений подготовки, изучающих смежные дисциплины.

Характеристики
Автор Батоврин В., Бессонов А. С., Мошкин В., Папуловский В. Ф.
Год2001
ISBN5-94074-267-X
ЯзыкРусский
Издательство ДМК
Страниц208
Формат170х240 мм
ОбложкаМягкая обложка
top