Поиск
Filters
Ваша корзина пуста.
093 653 93 80
096 661 85 11
099 950 11 32
Close

LabVIEW: Практикум по основам измерительных технологий

Батоврин В., Бессонов А. С., Мошкин В., Папуловский В. Ф.
200,00 грн
+ -

Второе издание практикума по основам измерительных технологий посвящено вопросам обработки и представления результатов измерений, а также методам и средствам измерений электрических и неэлектрических величин. Выбор этих разделов обусловлен тем, что с ними чаще всего приходится сталкиваться в учебной и производственной практике. Ядром практикума является комплекс прикладных программ, созданный в инструментальной среде разработки приложений LabVIEW, благодаря чему лабораторные работы могут выполняться как в учебной лаборатории в рамках традиционно организованного учебного процесса, так и на собственном компьютере во время самостоятельной работы в библиотеке или дома. Основное отличие от первого издания заключается в расширении перечня работ за счет введения главы по измерениям неэлектрических величин, а также представлении работ в виде исполняемых приложений для операционной системы Windows XP/Vista.

Характеристики
Автор Батоврин В., Бессонов А. С., Мошкин В., Папуловский В. Ф.
Год2009
ISBN978-5-94074-498-6
ЯзыкРусский
Издательство ДМК
Серия Все о LabVIEW
Страниц232
Формат170х240 мм
ОбложкаМягкая обложка
top