Пошук
Filters
У вашому кошику немає товарів
067 731 81 26
063 297 04 04
Close

Основы сканирующей зондовой микроскопии (уценка, витринный экз.)

В. Миронов
180,00 грн
+ -

Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.

Характеристики
Автор В. Миронов
Рік2005
МоваРусский
Видавництво Техносфера
Серія Мир физики и техники
Сторінок144
Формат170х240 мм
ОбкладинкаТвёрдая
top