Поиск
Filters
Ваша корзина пуста.
067 731 81 26
063 297 04 04
Close

Основы сканирующей зондовой микроскопии (уценка, витринный экз.)

В. Миронов
180,00 грн
+ -

Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.

Характеристики
Автор В. Миронов
Год2005
ЯзыкРусский
Издательство Техносфера
Серия Мир физики и техники
Страниц144
Формат170х240 мм
ОбложкаТвёрдая
top